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学院工程与计算

像差校正扫描透射电子显微镜设备

该设施的JEOL JEM2100F像差校正扫描透射电子显微镜(STEM)以原子分辨率表征材料的结构和成分。

JEM2100F 200kV FEG-STEM/TEM

  • 具有1eV FWHM能量分辨率的肖特基场发射炮
  • 用于电子探针的ceo六极Cs校正器
  • HAADF模式0.1nm分辨率
  • Fischione高角环形暗场探测器
  • JEOL STEM亮场探测器(BF)
  • 环形亮场(ABF)能力与Fischione环形探测器
  • 牛津印加固态EDS检测器
  • 用于能量过滤成像和电子能量损失谱(EELS)的Gatan Tridiem成像滤波器
  • 使用Gatan显微镜套件进行EELS和EDS光谱成像
  • JEOL低背景(Be)双倾斜支架用于EDS
  • Protochips Aduro MEMs加热支架

TEM性能

  • 0.19nm点分辨率,0.1nm信息极限
  • 加坦二郎神广角CCD相机
  • Gatan 4K Ultrascan相机作为Tridiem GIF的一部分

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如需更多信息,请发邮件给道格拉斯·a·布洛姆blomd@mailbox.www.eternity-eta.com或拨打803-777-2886。

地址

科克生命科学001
萨姆特街715号
哥伦比亚,SC 29208


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